SJ 50033.52-1994 半导体分立器件.CS0529型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

ID

F9A5303D969E44CFA36D5120D2449193

文件大小(MB)

0.61

页数:

14

文件格式:

pdf

日期:

2024-7-28

购买:

购买或下载

文本摘录(文本识别可能有误,但文件阅览显示及打印正常,pdf文件可进行文字搜索定位):

中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033.52-94,半导体分立哭件,CS0529型珅化钱微波功率场效应,晶体管详细规范,semiconductor discrete device,Detail specification for type CS0529 GaAs microwave,Power field effect transistor,1994-09-30 发布1994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批;隹,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,CS0529型碑化綿微波功率场效应晶体管 SJ 50033 52T4,详细规范,semiconductor discrete device,Detail specification for type CS0529 GaAs microwave,Power field effect transistor,范围,11主题内容,本规范规定了 CSO529型神化傢微波功率场效应晶体管(以下简称器件)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类.,1.3.1 器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》1. 3条的规定,提供的质量保证等级为普军、特军和超,特军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4586-84场效应晶体管测试方法,GJB 33-85 半导体分立器件总期范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,?各项要求应符合GJB 33和本规范的规定.,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层 ‘,引出端材料应为可伐,表面涂层应为金.,3.2.2 外形尺寸,外形尺寸见图1,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布 1994-12-01实施,SJ 50033.52-94,mm 续表 mm,、ぐ寸,符号、、,最小值,、尺寸,最大值 ぶ、,ft小値ft大值,K 4*0 册4 5 3.25 3. 55,K 3*0 3丒4 L &,F 0, 75 L15 尸1.65 1. 95,A L5 L9 b 0, 55 0* 65,C 一3.0 q 7丒3,.,7丒7,10*7 1L3,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3- 3-1最大额定值,注:D”>25C时按9. 33mW/C线性降额.,型 号rc=35-C,(W),Vna,(V),Vgs,(V),7d,(mA),Tj,9 (U),SU5Z9 K4 13 -7 7dss 175 —65 .175,SJ 50033.52-94,3.3-2主要电特性(Ta=25C),\符,极、号,キ,一擧号、,Ires VosMh lass,Vdsh3V. Vg=3V. Vos ——6Vt,Vgs-OV, 二 /n^lOmA VCS = OV.,,最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值最小值最大值,CS0529A,130 400 —1.5 -5.5 - 200 50 一,CSO52&B,&,Rhh,T 加d,P.= l.0W,加热时间,100ms,(r/w),炉03力8~10¥ 5Jps$ *,/w-8* OGHz、P严 12dBm(CSO529A)?,■ 鳥=16 GHz、F用 15dBm(CS0529B),(dBm) (dB) 必,型号、X ,最小值聶大值最小值最大值量小值,最大值标称值,CS0529A,105 20,8,20,CS0529B 5,3-4测试要求,电测试应符合GB 4586及本规范的规定,3- 5标志,本器件极性标志见图1O器件包装盒上的标志应符合GJB 33的规定,4质量保证规定,4-I抽样和检验,抽样和检验按GJB 33和本规范的规定O,4.1.I关于结构相似器件抽样的规定,在同一生产线上,采用相同材料,相同工艺,同一套光刻掩模版(同一版上可有不同图形),制造的CS0529、CS0530、CSQ531和CS0532型器件,除A2、A3、A4、B3和B5分组外,相同芯,片批的器件可作为结构相似器件进行逐批检验;除C6分组外相同检验周期的器件可作为结,构相似器件进行周期检验.在这种情况下从某ー个型号或几个型号的器件中抽取的ー组样品,的试验结果,对这四个型号的器件均有效,412鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定.,4.3 筛选(仅对GT和GCT级),筛选应按GJB 33表2和本规范的规定.其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范,表1极限值的概件应予剔除.,コQ ___,SJ 50033. 52-94,筛 选,见GJB 33表2,试験方法,GJB 128方法,测试和试験,3热冲击(温度循环) 1051 一 65じ.+ス50匸,?中間測试/ms \Vos

……